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1、晶体管参数测试仪系统可测MOSFET,IGBT,BJT,Diode……
DCT2000晶体管参数测试仪系统能测试很多电子元器件的静态直流参数（如击穿电压V（BR）CES/V（BR）DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE（th）、开启电压/VCE（on）、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds（on）。
会损坏。晶体管耐压测试仪在进行测试时，会对晶体管进行高电压测试，以检测晶体管的耐受能力。如果测试仪器操作不当，或者晶体管本身存在质量问题，都有可能导致晶体管在测试过程中损坏。
⑤根据需要显示的醢线和需要测试的参数，选择相应的作用开关以及合适的量程，即可进行有关图形显示和参数测定。晶体管图示测试系统在运用的过程中：a.测试时逐渐加大峰值电压，即可得到输出特性曲线。
西安易恩电气 EN-2005C是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统，本系统可自动生成功率器件的I-V曲线，也可根据客户的实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。
用万用表检测晶体管特性的实验目的和原理如下：实验目的：熟悉晶体二极管、三极管和场效应管的主要参数。学习使用万用电表测量晶体管的方法。
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